PP滤芯微滤膜结构与性能的表征
PP滤芯微滤膜一般通过机械截留、架桥作用、网络型膜的网络内部截留作用及吸附等形式起到分离作用，截留率和能量是衡量微滤膜分离性能好坏的两个重要参数。截留率和通量与膜的结构有密切关系，受到孔结构及其分布的直接影响。微滤膜孔结构大致可以从膜表面孔结构及剖面孔结构进行直观的剖析和了解，也可以用孔径、孔径分布、孔隙率等住处进行间接表征。如何表征微滤膜的结构与性能
孔结构的表征
PP滤芯微滤膜的孔径范围为0.1-10um,有直孔、曲孔、网状孔、指状孔之分，有对称与不对称之分。电子显微镜是直观研究微滤膜孔结构的重要工具之一。其他方法还有间接的测定方法，如泡点法、压汞法、渗透法、气体流量法、已知颗粒通过法、干湿空气滤速法、泡点法十滤速法、显微照片分析法等。
1，电子显微镜
电子显微镜有两种:SEM(扫描电子显微镜)、TEM(透射电子显微镜)
2，原子力显微镜，原子力显微镜(AFM)也常用于膜领域，原子力显微镜主要用于表征膜的表面，而且比电子显微镜更精确。原子粒显微镜
是一种用来表征膜的新方法，直径小于1*10-8m的非常尖的探针以恒定
的力扫过被测表面时，探针顶部的原子会和样品发生相互作用，通过检测这些力就可得到样品表面的扫描结构。用微尺度的悬臂可以
实现在InN(InN-1*10-9N)的相互作用力下检测，因此可以使用这种方法来检查膜的表面(特别适合聚合物材料的膜)。
此方法的优点是膜表面可在空气中扫描而无需特别处理，所得到的扫描曲线可表现出可能存在的孔的位置和尺寸，而且可清晰地表征出表面
粗糙程度。但是在一般情况下，正是由于膜表面的粗糙程度要比孔径大小相近，因此很难测得孔径分布。因此如将此种方法和SEM等其他
方法结合起来，可以取得很好的效果。
